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低气压、加速寿命测试

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加速寿命试验箱

型号:TY-HAST
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产品说明、技术参数及配置

加速寿命试验箱广泛应用于集成电路/微电子/IC等领域,其试验目的是提高环境应力,如温度与工作应力施加给产品的电压/负荷等,加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析被测试样品何时出现的磨耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障。分布函数呈现什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

产品特点
智慧型饱和蒸汽温度值,人力控制装置与 饱和蒸汽压力检知
白金温度传感器(PT-100型)感知精确 温度
圆形棋置式内箱结构设计,方便待测样品 取置与蒸汽冲击隔离装置
专利自动压力安全门闩锁控制装置
全自动真空清洁程序,减低试品污染
另可扩充功能:记录温湿度/压力

性能技术指标

型号

TY-HAST-40

测试箱尺寸(φ*D)mm

400 X 500

外箱尺寸(W*H*D)mm

709 X 950 X 1674

温度控制范围

100°C-135°C

温度波动范围

±0.5°C ( 85°C~135°C/100%RH )

湿度控制范围

65%RH~100%RH

湿度波动范围

±3%RH

最大压力

0.019-0.208MPa

电源

220VAC ±10%, 50HZ, 20A

符合标准

GB; ISO; ASTM; ULCEN--


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